中文名称：SDD暗态漏电流数据

英文名称：Dark leakage current data of silicon drift detector

项目来源：X射线能谱探测器关键技术和产品研发及产业化应用示范

项目编号：2022YFF0709500

关键词:   硅漂移探测器  漏电流  能量分辨率

学科分类:  核科学技术

类型: 数据

描述: 硅漂移探测器的暗态漏电流数据来源于对已完成制备的器件，在无光照射、反向偏压下进行I-V特性测试。该数据的核心用途在于作为评估和诊断SDD制造工艺优劣、器件结构设计有效性的关键判据，低的暗电流是决定探测器能量分辨率核心指标的先决条件。

数据标识: CSTR:17081.11.collect.2022YFF0709500.08

资源生成日期:2025-09-24

共享途径:线上共享

共享范围:完全共享

共享发布时间: 2025-12-23

最后更新时间: 2025-12-23

出版状态: 已出版

创建者: 中国科学院微电子研究所

发布机构: 国家高能物理科学数据中心

访问权限: 开放共享

许可协议: CC BY 4.0

可用日期: 2027-11-01

限制条件: 保护期

数据量: 4.4MB

数据文件列表：

• SDD暗态漏电流数据说明.docx